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產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2025-06-04訪 問 量：1394詳細(xì)介紹
德國EPK公司MINITEST 730涂層測厚儀
MINITEST 730涂層測厚儀有8種型號訂貨時注意：
| MINITEST 730F1.5涂層測厚儀 | 鐵基體涂層0-1500um |
| MINITEST 730N07涂層測厚儀 | 非鐵基體0-700um |
| MINITEST 730FN1.5兩用型涂層測厚儀 | 兩用型0-1500um（F）,0-700um（N） |
| MINITEST 730F2鐵基體涂層涂層測厚儀 | 鐵基體涂層0-2000um |
| MINITEST 730F5涂層測厚儀 | 鐵基體涂層0-5000um |
| MINITEST 730N2.5涂層測厚儀 | 非鐵基體0-2500um |
| MINITEST 730FN5涂層測厚儀 | 兩用型0-5000um（F）,0-2500um（N） |
| MINITEST 730F15涂層測厚儀 | 鐵基體（0-15m） |
創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性
測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
SIDSP技術(shù)-技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭，模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MINITEST 730涂層測厚儀及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強(qiáng)了EPK在涂層測厚市場的.
有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時，儀器會報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽：
SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯誤
生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
大存儲量，能存儲10或100組多達(dá)100,000個讀數(shù)
讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
菜單指引操作，25種語言可選
帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
可下載更新軟件
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
帶塑料手提箱，內(nèi)含 -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
MINITEST 720（內(nèi)置探頭）
或MINITEST 730（外置探頭）
或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
2節(jié)AA電池
探頭 特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
| 信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） | |||||
| 精確度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
| 重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | |||||
| 單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) | |||||
| 型號特性 | MINITEST 730 |
| 探頭類型 | 外置 |
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 |
| 存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 |
| 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） |
| 校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
| 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
| 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過極限 |
| 測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou |
| 操作溫度 | -10℃-60℃ |
| 存放溫度 | -20℃-70℃ |
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） |
| 電源 | 2節(jié)AA電池 |
| 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 |
| 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm |
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